制造商零件编号：SN74BCT8240ADWRE4

制造商：Texas Instruments

描述：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

系列：74BCT

逻辑类型：扫描测试设备，带反相缓冲器

电源电压：4.5 V ~ 5.5 V

位数：8

工作温度：0°C ~ 70°C

安装类型：表面贴装

封装/外壳：24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）

供应商器件封装：24-SOIC

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