制造商零件编号：SN74ABT8952DW

制造商：Texas Instruments

描述：IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC

系列：74ABT

逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器

电源电压：4.5 V ~ 5.5 V

位数：8

工作温度：-40°C ~ 85°C

安装类型：表面贴装

封装/外壳：28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）

供应商器件封装：28-SOIC

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